MOS电路老化测试夹具

该系列夹具供贴片封装的CMOS、PMOS集成电路的老化、测试、筛选作连结之用(间距1.27mm)。

产品型号及规格；

GLB-14 GLB-18 GLB2-18J

主要技术指标；

间距；1.27mm

环境温度；-55℃—+155℃ 接触电阻；≤0.01欧

工作电压；DC500V

单脚插入力；≤0.2Kg

弹片金层厚度；2umAu:lu(镍金）